GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗低溫試驗測試目的是在于評價在貯存、工作和拆裝操作期間，低溫條件對裝備的性、完整性和性能的影響。

GJB150.4A-2009適用于對軍用設(shè)備進行低溫試驗。

一、GJB150.4A-2009軍用裝備低溫試驗可能激發(fā)的故障：

1、材料的硬化或脆化；

2、材料產(chǎn)生收縮，不同零部件膨脹率不同引起零部件咬死；

3、電子器件的性能發(fā)生改變；

4、減振架剛性增加；

5、破裂與龜裂、脆裂、沖擊強度改變和強度降低。

二、GJB150.4A-2009軍用裝備低溫試驗包括三個程序：

程序一：貯存，程序二：工作，程序三：拆裝操作。

三、GJB150.4A-2009軍用裝備低溫試驗的測試時間：

低溫工作試驗：低溫溫度點達到穩(wěn)定后，設(shè)備帶電保持2小時；

低溫貯存試驗：低溫溫度點達到穩(wěn)定后，設(shè)備不工作保持24小時；

拆裝操作低溫試驗：低溫溫度點達到穩(wěn)定后，至少保持2小時；

四、GJB150.4A-2009軍用裝備低溫試驗測試方案：

低溫工作試驗：-40℃，帶電工作2小時，結(jié)束后恢復(fù)至常溫保持2小時，試驗期間產(chǎn)品應(yīng)能正常工作；

低溫貯存試驗：-55℃，貯存24小時，結(jié)束后恢復(fù)至常溫保持2小時，試驗后產(chǎn)品應(yīng)能正常工作；

五、GJB150.4A-2009軍用裝備低溫試驗常規(guī)檢測依據(jù)如下：

GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB367A-2001軍用通信設(shè)備通用規(guī)范

GJB322A-1998軍用計算機通用規(guī)范

GJB3947A-2009軍用電子測試設(shè)備通用規(guī)范

GJB4.3-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗低溫試驗

GJB4.4-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗低溫貯存試驗

北京可靠性試驗實驗室通過了國家實驗室CNAS、CMA資質(zhì)認(rèn)可，實驗室獲得了國家二級保密資格，可以接受的環(huán)境試驗委托，實驗室通過了GJB150.4A-2009及其他標(biāo)準(zhǔn)授權(quán)，可以實施軍用設(shè)備的低溫環(huán)境試驗并出具國家認(rèn)可的檢測報告。